产品详情
PG70ABDL 精密测厚仪
PG70ABDL 的屏幕可选分辨率为0.01mm 或0.001mm（0.001/0.0001英寸），可同时用A型和B型扫描来
显示厚度值，以便用户准确评估各类材料。
仪表的自动寻找功能可以定位监测点，调节显示屏设置以显示波形。
仪表的高速扫描功能加速了检测过程，达到每秒32次测量。从被测材料上移开传感器，显示屏就会显示扫描的最小测值。
用户可设置上下限，通过视觉和听觉的警报来察觉具体的应用偏差。
特点:
- 0.001mm的高度分辨率
- 显示模式范围：A型扫描，B型扫描，脉冲-回波，回波-回波
- 可调节增益： -30dB至70dB
- 自动增益控制 (AGC)
- 用户自定义的设置
- 多种语言显示
- 多种校准和材料选择选项
- 高速扫描：每秒32个读数
- 差值模式
- 最小厚度报警模式
- 数据存储功能：12，000个读数和波形
- 可下载到数据管理软件
PG70ABDL 特征解释
重复性/稳定性指示条
易高系列拥有6个竖条信号，当所有竖条全亮并且数字测厚仪上的最后一位数字稳定时，仪器即可得出可靠的测量结果。
显示最小厚度的高速扫描显示屏
通过快速增加测量数据的刷新率，这种模式可以使用户扫描被测试材料。仪器会自动保存下最小的厚度值并且在扫描结束
之后显示出来。这个模式也可与极限报警模式一起使用（取决于产品型号）。
差分模式
一旦用户自定义的标称厚度值被设置后，仪器将会用+/-号来显示输入标称值的厚度差。
极限报警模式
用户可以定义最小和最大厚度极限。如果测量值超出上限或下限，红色LED亮起，蜂鸣器响起。绿色LED亮起指示可接受厚度。
V-型路径校正模式
双晶传感器由一个带两个晶体的探头组成（一个传输，一个接收声脉冲）。晶体被一个隔音屏障
分开-声音从一个晶体传到另一个晶体，产生一个V型路径。 由于时间/厚度的关系是非线性的，
V-路径校正模式就用来弥补这个错误。
PG70ABDL 测量模式介绍
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脉冲-回波模式 (PE）: 标准显示模式，测量从传感器探头基体到材料密度边界（通常是背面）的总厚度。适合凹洞和 瑕疵的检测。 |
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回波-回波模式（EE）: 又被称作ThruPaint™模式，可以忽略掉涂层的厚度，显示的是从表面到材料密度边界的直接厚度。 |
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界面-回波模式（IE）: 比PE模式更准确。IE模式显示从表层到材料密度边界的总厚度，即可忽略耦合剂的厚度。 |
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PG70ABDL 显示模式
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材料厚度数字显示模式:
扫描栏显示模式:
B扫描显示模式: |
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A扫描显示模式---全波型(RF）:
A-扫描显示模式---半波型（正波形/负波形）: |
